安捷倫和康思德聯手研發晶片級測量解決方案
作者： 2014年06月24日 來源： 瀏覽量：
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【摘要】安捷倫科技公司和康思德精密科技有限公司日前宣布雙方結成戰略合作關系，旨在為客戶提供經過全面配置和驗證的射頻測量解決方案，該解決方案不僅能夠簡化晶片級半導體測量，而且還能提供有保障的配置
【摘要】安捷倫科技公司和康思德精密科技有限公司日前宣布雙方結成戰略合作關系，旨在為客戶提供經過全面配置和驗證的射頻測量解決方案，該解決方案不僅能夠簡化晶片級半導體測量，而且還能提供有保障的配置、安裝及支持。
安捷倫科技公司和康思德精密科技有限公司日前宣布雙方結成戰略合作關系，旨在為客戶提供經過全面配置和驗證的射頻測量解決方案，該解決方案不僅能夠簡化晶片級半導體測量，而且還能提供有保障的配置、安裝及支持。
據介紹，最新的晶片級測量解決方案整合了康思德的晶圓探針臺、探針和校準工具以及安捷倫測試儀器和測量分析軟件，將會為半導體測試帶來深遠影響。每種解決方案配置在出廠前均已通過預先驗證，以滿足客戶的特定應用需求，在康思德解決方案專家安裝完畢后，可根據之前商定的驗收標準再次驗證配置。安捷倫或康思德承諾免費填補解決方案缺失的任何部件，以確保客戶享受有保障的配置。另外，每個晶片級測量解決方案均配有完善的支持套件，并且允許客戶聯系經驗豐富的區域解決方案專家以索取晶圓上測試測量技巧。
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