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晶片級測量
安捷倫和康思德聯手研發晶片級測量解決方案(2014-06-24)
【摘要】安捷倫科技公司和康思德精密科技有限公司日前宣布雙方結成戰略合作關系，旨在為客戶提供經過全面配置和驗證的射頻測量解決方案，該解決方案不僅能夠簡化晶片級半導體測量，而且還能提供有保…[詳情]
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