球差校正透射電子顯微鏡檢測測試服務的簡單介紹

球差校正透射電子顯微鏡檢測測試服務的詳細信息

1、塊體用fib制樣，厚度30nm左右；粉末提供10mg左右；

2、納米顆粒或者納米片建議用微柵或者超薄碳膜制樣；

1. 樣品為什么會積碳，積碳有什么影響？

答：樣品中有機物的影響，制備過程含有機物，或者樣品吸附空氣中污染物；積碳會影響STEM模式的拍攝效果，讓視野模糊不清。

2. 有什么方法可以改善積碳帶來的影響？是否一定有用？

答：等離子清洗制好樣的載網，但有洗壞樣品的風險，可以會導致負載顆粒脫落等風險；電子束輻照樣品一段時間，理論上會有改善，但是實際不一定會有明顯效果。

3. 我要拍的單原子，為什么整片區域都是很亮的，看不清單個的？

答：樣品太厚，或者負載量太大等。

4. 為什么拍不到原子分辨率的mapping和eels？

答：原子相要求樣品很薄，樣品薄的話能譜信號和eels號會比較弱，不利于收集信號。那就要求樣品很薄，很穩定，能長時間收集信號，且要求原子序數都比較大的。一般樣品很難同時符合這幾個要求。

5. 拍球差的樣品為什么要很薄？

答：薄的樣品可以減少電子在樣品中的彈射次數，分辨率就會比較高。

6. 樣品很厚是不是制樣沒超聲好？

答：球差一般是拍樣品邊緣幾個nm的區域，所以對于原子相樣品團聚不會影響到拍攝效果，但樣品本身很厚就會有影響，這個與超聲分散的效果沒有關系，與樣品本身的厚薄有關。

7、AC-TEM和AC-STEM這兩臺透射電鏡的區別是什么呢？

AC-TEM的球差校正器安裝在物鏡位置，而AC-STEM的球差校正器安裝在聚光鏡的位置。另外，雙球差校正TEM是一臺TEM上同時安裝兩個校正器，同時校正匯聚束和成像。

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