20項國家標準公布 涉多項儀器儀表測試方法
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序號 |
國家標準編號 |
國 家 標 準 名 稱 |
代替標準號 |
實施日期 |
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1 |
GB/T 4377-2018 |
半導體集成電路 電壓調整器測試方法 |
GB/T 4377-1996 |
2018-08-01 |
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2 |
GB/T 14028-2018 |
半導體集成電路 模擬開關測試方法 |
GB/T 14028-1992 |
2018-08-01 |
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3 |
GB/T 35001-2018 |
微波電路 噪聲源測試方法 |
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2018-08-01 |
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4 |
GB/T 35002-2018 |
微波電路 頻率源測試方法 |
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2018-08-01 |
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5 |
GB/T 35003-2018 |
非易失性存儲器耐久和數據保持試驗方法 |
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2018-08-01 |
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6 |
GB/T 35004-2018 |
數字集成電路 輸入/輸出電氣接口模型規范 |
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2018-08-01 |
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7 |
GB/T 35005-2018 |
集成電路倒裝焊試驗方法 |
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2018-08-01 |
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8 |
GB/T 35006-2018 |
半導體集成電路 電平轉換器測試方法 |
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2018-08-01 |
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9 |
GB/T 35007-2018 |
半導體集成電路 低電壓差分信號電路測試方法 |
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2018-08-01 |
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10 |
GB/T 35008-2018 |
串行NOR型快閃存儲器接口規范 |
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2018-08-01 |
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11 |
GB/T 35009-2018 |
串行NAND型快閃存儲器接口規范 |
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2018-08-01 |
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12 |
GB/T 35010.1-2018 |
半導體芯片產品 第1部分：采購和使用要求 |
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2018-08-01 |
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13 |
GB/T 35010.2-2018 |
半導體芯片產品 第2部分：數據交換格式 |
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2018-08-01 |
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14 |
GB/T 35010.3-2018 |
半導體芯片產品 第3部分：操作、包裝和貯存指南 |
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2018-08-01 |
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15 |
GB/T 35010.4-2018 |
半導體芯片產品 第4部分：芯片使用者和供應商要求 |
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2018-08-01 |
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16 |
GB/T 35010.5-2018 |
半導體芯片產品 第5部分：電學仿真要求 |
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2018-08-01 |
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17 |
GB/T 35010.6-2018 |
半導體芯片產品 第6部分：熱仿真要求 |
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2018-08-01 |
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18 |
GB/T 35010.7-2018 |
半導體芯片產品 第7部分：數據交換的XML格式 |
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2018-08-01 |
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19 |
GB/T 35010.8-2018 |
半導體芯片產品 第8部分：數據交換的EXPRESS格式 |
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2018-08-01 |
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20 |
GB/T 35011-2018 |
微波電路 壓控振蕩器測試方法 |
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2018-08-01 |
合理、規范的國家標準將有利于儀器儀表行業更好地發展壯大，便于我國的儀器研發團隊在現有儀器標準的基礎上，開發更便捷快速的零部件，提升儀器的技術含量。同時對我國儀器制造商業有了明確的規范，對儀器測量的精度和準度作出了更高的要求，這將有助于我國分析儀器更好的得到長足發展。
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